CETC CHIPS TECHNOLOGY INC. — Audit Report / Information 2025

Apr 28, 2026

公司代码：600877

公司简称：电科芯片

中电科芯片技术股份有限公司

2025年度内部控制评价报告

中电科芯片技术股份有限公司全体股东：

根据《企业内部控制基本规范》及其配套指引的规定和其他内部控制监管要求（以下简称企业内部控制规范体系），结合中电科芯片技术股份有限公司（以下简称“公司”）内部控制制度和评价办法，在内部控制日常监督和专项监督的基础上，我们对公司2025年12月31日（内部控制评价报告基准日）的内部控制有效性进行了评价。

一.重要声明

按照企业内部控制规范体系的规定，建立健全和有效实施内部控制，评价其有效性，并如实披露内部控制评价报告是公司董事会的责任。审计与风险控制委员会对公司建立和实施内部控制进行监督。经营管理层负责组织领导企业内部控制的日常运行。公司董事会及董事、高级管理人员保证本报告内容不存在任何虚假记载、误导性陈述或重大遗漏，并对报告内容的真实性、准确性和完整性承担个别及连带法律责任。

公司内部控制的目标是合理保证经营管理合法合规、资产安全、财务报告及相关信息真实完整，提高经营效率和效果，促进实现发展战略。由于内部控制存在的固有局限性，故仅能为实现上述目标提供合理保证。此外，由于情况的变化可能导致内部控制变得不恰当，或对控制政策和程序遵循的程度降低，根据内部控制评价结果推测未来内部控制的有效性具有一定的风险。

二.内部控制评价结论

1. 公司于内部控制评价报告基准日，是否存在财务报告内部控制重大缺陷

☐ 是 √ 否

1. 财务报告内部控制评价结论

√ 有效 ☐ 无效

根据公司财务报告内部控制重大缺陷的认定情况，于内部控制评价报告基准日，不存在财务报告内部控制重大缺陷，董事会认为，公司已按照企业内部控制规范体系和相关规定的要求在所有重大方面保持了有效的财务报告内部控制。

---

2

3.是否发现非财务报告内部控制重大缺陷

☐是 √否

根据公司非财务报告内部控制重大缺陷认定情况，于内部控制评价报告基准日，公司未发现非财务报告内部控制重大缺陷。

4.自内部控制评价报告基准日至内部控制评价报告发出日之间影响内部控制有效性评价结论的因素

☐适用 √不适用

自内部控制评价报告基准日至内部控制评价报告发出日之间未发生影响内部控制有效性评价结论的因素。

5.内部控制审计意见是否与公司对财务报告内部控制有效性的评价结论一致

√是 ☐否

6.内部控制审计报告对非财务报告内部控制重大缺陷的披露是否与公司内部控制评价报告披露一致

√是 ☐否

三.内部控制评价工作情况

(一). 内部控制评价范围

公司按照风险导向原则确定纳入评价范围的主要单位、业务和事项以及高风险领域。

1. 纳入评价范围的主要单位包括：中电科芯片技术股份有限公司、重庆西南集成电路设计有限责任公司、重庆中科芯亿达电子有限公司和深圳市瑞晶实业有限公司。

2. 纳入评价范围的单位占比：

指标	占比（%）
纳入评价范围单位的资产总额占公司合并财务报表资产总额之比	100
纳入评价范围单位的营业收入合计占公司合并财务报表营业收入总额之比	100

1. 纳入评价范围的主要业务和事项包括：

组织架构、发展战略、人力资源、资金管理、采购业务、资产管理、销售业务、研究与开发、业务外协、财务报告、关联交易、全面预算、合同管理。

1. 重点关注的高风险领域主要包括：

资金管理、采购业务、资产管理、销售业务、财务报告、关联交易。

1. 上述纳入评价范围的单位、业务和事项以及高风险领域涵盖了公司经营管理的主要方面，是否存在重大遗漏

☐是 √否

---

1. 是否存在法定豁免

☐ 是 √ 否

1. 其他说明事项

无

(二). 内部控制评价工作依据及内部控制缺陷认定标准

公司依据企业内部控制规范体系及内部控制评价指引，组织开展内部控制评价工作。

1. 内部控制缺陷具体认定标准是否与以前年度存在调整

☐ 是 √ 否

公司董事会根据企业内部控制规范体系对重大缺陷、重要缺陷和一般缺陷的认定要求，结合公司规模、行业特征、风险偏好和风险承受度等因素，区分财务报告内部控制和非财务报告内部控制，研究确定了适用于本公司的内部控制缺陷具体认定标准，并与以前年度保持一致。

1. 财务报告内部控制缺陷认定标准

公司确定的财务报告内部控制缺陷评价的定量标准如下：

指标名称	重大缺陷定量标准	重要缺陷定量标准	一般缺陷定量标准
资产总额	错报金额≥资产总额 1%	资产总额 0.05%≤错报金额＜资产总额 1%	错报金额＜资产总额 0.05%

说明：

无

公司确定的财务报告内部控制缺陷评价的定性标准如下：

缺陷性质	定性标准
重大缺陷	当某项财务报告内部控制缺陷具有以下特征之一时：
(1) 董事和高级管理人员舞弊；
(2) 公司因重大会计差错更正已公布的财务报告；
(3) 注册会计师发现的却未被公司内部控制识别的当期财务报告中的重大错报；
(4) 公司审计与风险控制委员会和内部审计机构对内部控制的监督无效。
重要缺陷	当某项财务报告内部控制缺陷具有以下特征之一时：
(1) 未依照公认会计准则选择和应用会计政策；
(2) 未建立反舞弊程序和控制措施；
(3) 对于非常规或特殊交易的账务处理没有建立相应的控制机制或没有实施且没有相应的补偿性控制；
(4) 对于期末财务报告过程的控制存在一项或多项缺陷且不能合理保证编制的财务报表达到真实、准确的目标。
一般缺陷	不构成重大缺陷和重要缺陷的财务报告内部控制缺陷。

说明：

无

---

4

3.非财务报告内部控制缺陷认定标准

公司确定的非财务报告内部控制缺陷评价的定量标准如下：

指标名称	重大缺陷定量标准	重要缺陷定量标准	一般缺陷定量标准
直接财产损失	直接财产损失≥50万元	5万元≤直接财产损失<50万元	直接财产损失<5万元

说明：

无

公司确定的非财务报告内部控制缺陷评价的定性标准如下：

缺陷性质	定性标准
重大缺陷	违反国家法律法规或规范性文件、重大决策程序不科学、制度缺失可能导致系统性失效、重大或重要缺陷不能得到整改、其他对公司负面影响重大的情形。
重要缺陷	公司决策程序不科学，导致出现一般失误；违反公司规程或标准操作程序，形成损失；出现较大安全生产、环保、产品质量或服务事故；重要业务制度或系统存在缺陷；内部控制重要缺陷未得到整改。
一般缺陷	不构成重大缺陷或重要缺陷的其他内部控制缺陷。

说明：

无

(三). 内部控制缺陷认定及整改情况

1.财务报告内部控制缺陷认定及整改情况

1.1.重大缺陷

报告期内公司是否存在财务报告内部控制重大缺陷

☐是 √否

1.2.重要缺陷

报告期内公司是否存在财务报告内部控制重要缺陷

☐是 √否

1.3.一般缺陷

公司在评价过程中发现的内部控制一般缺陷，其可能导致的风险均在可控范围之内，公司已安排落实整改。

1.4.经过上述整改，于内部控制评价报告基准日，公司是否存在未完成整改的财务报告内部控制重大缺陷

☐是 √否

1.5.经过上述整改，于内部控制评价报告基准日，公司是否存在未完成整改的财务报告内部控制重要缺陷

☐是 √否

2.非财务报告内部控制缺陷认定及整改情况

2.1.重大缺陷

报告期内公司是否发现非财务报告内部控制重大缺陷

---

□是 √否

2.2.重要缺陷

报告期内公司是否发现非财务报告内部控制重要缺陷

□是 √否

2.3.一般缺陷

公司在评价过程中发现的内部控制一般缺陷，其可能导致的风险均在可控范围之内，公司已安排落实整改。

2.4. 经过上述整改，于内部控制评价报告基准日，公司是否发现未完成整改的非财务报告内部控制重大缺陷

□是 √否

2.5. 经过上述整改，于内部控制评价报告基准日，公司是否发现未完成整改的非财务报告内部控制重要缺陷

□是 √否

四.其他内部控制相关重大事项说明

1.上一年度内部控制缺陷整改情况

□适用 √不适用

2.本年度内部控制运行情况及下一年度改进方向

√适用 □不适用

2025年度，公司继续完善内部控制体系，不断完善内部控制制度，新制定、修订制度合计57个，规范内部控制执行，改善内部控制环境，风险防范能力得到有效提升，经营管理水平持续提升。公司法务与纪审部就公司2025年度内部控制情况开展内部审计，出具了“内控有效”审计报告。

2026年度，公司将持续推进内部控制体系的优化与深化建设，进一步强化内控执行与监督检查力度，尤其聚焦高风险领域。通过实施风险的事前预防、事中控制、事后监督及反馈纠正，完善内部信息沟通与监督机制，充分发挥审计与风险控制委员会的监督指导作用，从而有效提升经营管理水平和风险防范能力，助力公司实现持续、健康、快速发展。

3.其他重大事项说明

□适用 √不适用

董事长（已经董事会授权）：李斌

中电科芯片技术股份有限公司

2026年4月27日